Logisch-statistische Simulation digitaler Systeme mit Temperatur- und Spannungskartierung zur Vorhersage von Variations- und Alterungseffekten
Helms, Domenik and Hylla, Kai and Nebel, Wolfgang
Wir präsentieren eine statistische Beschreibung digitaler Systeme, die aufgrund einer vorhergehenden taktgenauen Simulation des Systems dessen Verhalten über den gesamten Lebenszyklus des Systems hinweg vorhersagt. Der Simulator berücksichtigt dabei die Wechselwirkungen zwischen der Verlustleistung (statisch und dynamisch), der Temperatur- und Spanungsverteilung sowie verschiedener Alterungseffekte. Da der Einfluss globaler Fertigungs- schwankungen auf diese Wechselwirkungen ebenso wie auf die Systemgeschwindigkeit berücksichtigt werden kann, wird eine Vorhersage des mittleren Verhaltens vieler Systeme hinsichtlich funktionales Versagens und parametrischer Fehler zur Produktion und über die Lebensspanne des Systems hinweg möglich.
09 / 2009
inproceedings
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