Heutige und zukünftige Anforderungen an die Betriebssicherheit, die Energieeffizienz und die Umweltverträglichkeit technischer Geräte und Einrichtungen sind nur mit Hilfe moderner elektronischer Regelungs- und Automatisierungstechnik zu erfüllen. Um technische Prozesse in Fahrzeugen, Maschinen, Gebäuden oder Versorgungsnetzen im Hinblick auf ihren Energie- und Ressourcenbedarf optimal regeln zu können, müssen ihre Betriebszustände mittels intelligenter Sensorik, Aktorik und Kommunikationstechnik schnell und präzise erfasst, übermittelt und beeinflusst werden können. Die Mikro- und Nanoelektronik spielt hierbei eine zentrale Rolle als Schlüsseltechnologie für die Entwicklung ökonomisch und ökologisch effizienter Systemlösungen.
Integrierte Schaltungen für Sensor-, Aktor- und Kommunikationssysteme sind geprägt durch besonders vielfältige Kombinationen verschiedenster Halbleiter-Fertigungstechnologien und Funktionsweisen ihrer Baugruppen. So finden sich in Systemen dieser Art oft umfangreiche Verknüpfungen von komplexen analogen und digitalen Funktionsblöcken mit Hochfrequenz- und Leistungselektronik-Komponenten. Eine stetig wachsende Herausforderung im Entwurfsprozess für solche Mixed-Signal-Systems-on-Chip (Mixed-Signal-SoC) besteht dabei in der Sicherstellung des korrekten Zusammenspiels der Systemkomponenten unter allen möglichen Betriebsbedingungen. Hierzu muss eine vorgegebene Testabdeckung (Coverage) aller Zustände des Gesamtsystems als Teil des Qualitätsmanagements im Entwurfsprozess garantiert werden können.
Das Projekt ANCONA befasst sich daher mit der Erforschung neuer Methoden zur ebenenübergreifenden Verifikation von Mixed-Signal-Schaltungen. Das Ziel ist, den Stand und Fortschritt der Mixed-Signal-Verifikation durch den effektiven, methodischen Einsatz von Spezifikations-, Modellierungs-, Simulations- und Verifikationsverfahren quantitativ messbar zu machen und damit die für den Industriestandort Deutschland wichtige Entwicklung von Mixed-Signal-SoC technologisch und ökonomisch beherrschbarer zu machen.
Weitere Informationen unter www.edacentrum.de/ancona/
Gregor Nitsche and Ralph Görgen and Kim Grüttner and Wolfgang Nebel; In Proceedings of the fifth IFIP International Embedded Systems Symposium (IESS 2015); 11 / 2015
Gregor Nitsche and Kim Grüttner; Proceedings of the 2015 Forum on Specification and Design Languages, FDL 2015, Barcelona, Spain, September 14-16, 2015; 09 / 2015
Gläser, G. and Nitsche, G. and Hennig, E.; Forum on Specification and Design Languages (FDL), 2015; 09 / 2015
Gregor Nitsche and Kim Grüttner and Wolfgang Nebel ; 12 / 2015
A. Fürtig and G. Gläser and C. Grimm and L. Hedrich and S. Heinen and H.-S. L. Lee and G. Nitsche and M. Olbrich and R. Popp and T. Purusothaman and C. Radojicic and R. Sommer and F. Speicher and D. Treytnar; newsletter edacentrum 01/02 2016; 12 / 2016
Erich Barke and Andreas Fuertig and Georg Glaeser and Christoph Grimm and Lars Hedrich and Stefan Heinen and Eckhard Hennig and Hyun-Sek Lukas Lee and Wolfgang Nebel and Gregor Nitsche and Markus Olbrich and Carna Radojicic and Fabian Speicher; 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, DATE 2016, Dresden, Germany, March 14-18, 2016; 05 / 2016
FKZ: 16ES0212