Bewertung und Optimierung der Robustheit mikroelektronischer Systeme - OFFIS

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Bewertung und Optimierung der Robustheit mikroelektronischer Systeme

Bewertung und Optimierung der Robustheit mikroelektronischer Systeme

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All authors

[Metzdorf, Malte and Helms, Domenik]

Publishing date

09 / 2012

Type of Publication

inproceedings

Organization

VDE/VDI

Projects

ROBUST
Designing Robust Nanoelectric Systems

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