RELY Design for RELIABILITY of SoCs for Applications like Transportation, Medical, and Industrial Automation

Ziele

Das Catrene/BMBF Projekt RELY (Förderkennzeichen 01M3091) entwickelt neue Methoden zum Entwurf von zuverlässigen eingebetteten Systemen für Anwendungen wie Transport, Medizin und Automatisierung. Die OFFIS Gruppe Analyse nanometrischer ICs erforscht hier in Kooperation mit Infineon und der TU München einen der relevantesten Alterungseffekte moderner Transistortechnologien - den Bias Temperature Instability Effekt. Hierbei verschlechtert sich über Betriebszeiten von Jahren hinweg die Leistungsfähigkeit der Transistoren. In herkömmlichen eingebetteten Systemen macht sich dieser Effekt zunächst nicht bemerkbar, bis er schließlich zu einem fast gleichzeitigen Ausfall vieler Teilsysteme kommt. Dies hat je nach Einsatz des Systems unterschiedliche Auswirkungen: Während für Kommunikationsgeräte eine Lebenszeit von ein paar Jahren durchaus akzeptabel ist, würde ein Einsatz dieser neuen Technologien im Automobil- und Flugzeugbereich zu einem nahezu garantierten Ausfall und somit zu erhöhten Wartungskosten durch vorbeugenden Austausch der Systeme führen. Für implantierte Systeme, für die eine Wartung über viele Jahre vermieden werden muss, ist der Einsatz neuester Technologien ohne neue Entwurfstechniken nahezu undenkbar. 

Personen

Wissenschaftliche Leitung

Publikationen
MoRV: Modelling Reliability under Variability

Malte Metzdorf, Reef Eilers, Domenik Helms, Wolfgang Nebel, Kay-Uwe Giering, Roland Jancke, Gerhard Rzepa, Tibor Grasser, Markus Karner, Praveen Raghavan, Ben Kaczer, Dan Alexandrescu, Adrian Evans, Gunnar Rott, Peter Rotter, Hans Reisinger, Wolfgang Gustin; SELSE 12 proceedings; 03 / 2016

Phase space based NBTI model

Eilers, Reef and Metzdorf, Malte and Rosinger, Sven and Helms, Domenik and Nebel, Wolfgang; 009 / 2012

RELY - Design for Reliability of SoCs

Helms, Domenik and Eilers, Reef and Oppenheimer, Frank and Nebel, Wolfgang; Proceedings of the 2013 IEEE European Test Symposium; 05 / 2013

Abstraktion des Switching-Trap-Modells für eine leistungsorientierte NBTI-Simulation

Eilers, Reef and Bergemann, Carl and Helms, Domenik and Nebel, Wolfgang; Proceedings of edaWorkshop 2013; 05 / 2013

Facilitating Cross-Layer Reliability Management through Universal Reliability Information Exchange

Enrico Costenaro, Domenik Helms, Nematollah Bidokhti, Adrian Evans, Maximilian Glorieux and Dan Alexandrescu; DAC - Design Automation Conference; 06 / 2015

Considering Variation and Aging in a Full Chip Design Methodology at System Level

Domenik Helms and Kim Grüttner and Reef Eilers and Malte Metzdorf and Kai Hylla and Frank Poppen and Wolfgang Nebel; Electronic System Level Synthesis Conference (ESLsyn), Proceedings of the 2014; 06 / 2014

Considering Variation and Aging in a Full Chip Design Methodology at System Level

Domenik Helms and Kim Grüttner and Reef Eilers and Malte Metzdorf and Kai Hylla and Frank Poppen and Wolfgang Nebel; Proceedings of The 2014 Electronic System Level Synthesis Conference (ESLsyn'14), May 31- Jun 01 2014, San Francisco, CA, USA; 05 / 2014

Abstracting TCAD aging models above the circuit level

Malte Metzdorf, Domenik Helms, Reef Eilers, Wolfgang Nebel; DATE - Design, Automation, and Test in Europe; 03 / 2015

RT Level Timing Model for Aging Prediction

Nils Koppaetzky, Malte Metzdorf, Reef Eilers, Domenik Helms, Wolfgang Nebel; DATE; 03 / 2016

Analysis of NBTI Effects on High Frequency Digital Circuits

Ahmet Unutulmaz, Domenik Helms, Reef Eilers, Malte Metzdorf, Ben Kaczer, Wolfgang Nebel; DATE; 03 / 2016

Leakage models for high level power estimation

Domenik Helms ; Reef Eilers ; Malte Metzdorf ; Wolfgang Nebel; IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems; 11 / 2017

Partner
Infineon Technologies AG
www.infineon.com
Atmel Corporation
www.atmel.com
EADS Deutschland GmbH (bis 31.05.2014 - danach Airbus Defence and Space GmbH)
www.eads.com
EADS Innovation Works
www.eads.com
MunEDA GmbH
www.muneda.com
STMicroelectronics srl
www.st.com
TU München
www.tum.de
Universität Bremen - ITEM Institut für Theoretische Elektrotechnik und Mikroelektronik
www.item.uni-bremen.de
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
www.uni-hannover.de
X-FAB Semiconductor Foundries AG
www.xfab.de
Ecole d´Ingenieur Télécom ParisTech (Télécom ParisTech), France
www.telecom-paristech.fr
CEA LIST
www-list.cea.fr
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB
www.iisb.fraunhofer.de
Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS Institutsteil Entwurfsautomatisierung EAS
www.eas.iis.fraunhofer.de

Laufzeit

Start: 01.05.2011
Ende: 30.04.2014